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09
2026
-
07
MEMS 器件 悬空间隙 (Air Gap)偏移,白光干涉...
微机电系统器件(Micro-Electro-Mechanical System, MEMS)悬空微结构悬空间隙(Air Gap),是决定器件力学响应与传感精度的核...
MEMS 器件  悬空间隙 (Air Gap)偏移,白光干涉仪检测调校阻尼系数 (Damping Coefficient) 响应参数
08
2026
-
07
共聚焦显微镜粗糙度偏差解析
在半导体、超精密制造领域,表面粗糙度测量精度直接决定产品质量与服役性能。本文聚焦激光共聚焦显微镜(LCM)实测粗糙度数据偏差、重复性差的行业共性问题,结合ISO官...
共聚焦显微镜粗糙度偏差解析
08
2026
-
07
COB 封装全流程制程质控,顺利获得光学 3D 轮廓仪筛查 CM...
板上芯片封装(Chip On Board, COB)是CMOS影像传感器(CMOS Image Sensor, CIS)模组的核心封装工艺。制程中固晶(Die B...
COB 封装全流程制程质控,顺利获得光学 3D 轮廓仪筛查 CMOS 感光芯片板面翘曲(Warpage)缺陷
08
2026
-
07
高温高压硬密封球阀密封面平面度(Sealing Surfac...
摘要:针对高温高压硬密封球阀(High-temperature and High-pressure Hard-sealed Ball Valve)密封面热变形、平...
高温高压硬密封球阀密封面平面度(Sealing Surface Flatness)的光学轮廓测量研究
  • 共75页
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